羅德與安培Schwarz增強了其高質(zhì)量的汽車天線罩測試儀R& S QAR,這是一種用于雷達集成測試的定制解決方案,可以分析和評估與雷達兼容性相關(guān)的天線罩(汽車徽標(biāo))和保險杠。
OEM OEM和一級供應(yīng)商使用新的R& S QAR-K50單天線簇測量軟件以無損的二維方式執(zhí)行測量,并且可以獲得非常接近矢量的測量結(jié)果網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)。
)和準(zhǔn)光學(xué)(QO)設(shè)備。
另外,用戶將從R& S QAR的直觀操作概念中受益。
R& S QAR是適用于天線罩和保險杠的測試和驗證的毫米波成像系統(tǒng)。
由于其出色的性能,速度,質(zhì)量和直觀的操作,該系統(tǒng)已成為完美的工具。
應(yīng)用范圍涵蓋天線罩材料和76 GHz至81 GHz的集成測試,包括研發(fā),生產(chǎn)和驗證。
每節(jié)課。
高空間分辨率是以更大的入射角擴展為代價的。
典型的雷達傳感器具有特定的視場(FOV),例如,全范圍雷達(FRR)為±10度,而短程雷達(SRR)為±60度。
根據(jù)材料表征技術(shù),天線罩的反射參數(shù)主要由垂直入射角定義,因為這些參數(shù)可以使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)進行測量。
R& S QAR-K50軟件選件就是基于此主題的。
將R& S QAR提供的結(jié)果與使用標(biāo)準(zhǔn)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)和準(zhǔn)光學(xué)(QO)設(shè)備測得的結(jié)果進行比較。
通過R& S QAR使用的較大孔徑,可以觀察和解釋測試對象。
一些錯誤。
這就是R& S QAR-K50軟件選件發(fā)揮作用的地方。
它將自動檢測材料樣品中的最高反射率和測試區(qū)域的平均值。
可以在7秒鐘內(nèi)確定反射區(qū)域的平均值,并將測量結(jié)果顯示給用戶。
該值與VNA的S11和S22的反射測量結(jié)果緊密匹配。
現(xiàn)在可以將在開發(fā)過程中使用VNA和QO設(shè)備進行的測量結(jié)果直接與R& S QAR的測量結(jié)果進行比較。
該系統(tǒng)仍使用微波成像技術(shù),但天線孔徑較小,因此對定位誤差的敏感性較低,比VNA設(shè)備更適合生產(chǎn)環(huán)境。
即使樣品定位有微小的公差,R& S QAR-K50軟件也可以自行檢測正確的測量區(qū)域,并向操作員提供光學(xué)反饋。
現(xiàn)在,R& S QAR將適用于均勻性分析的高分辨率圖像(R& S QAR-K10軟件)與穩(wěn)健且易于使用的反射率測量相結(jié)合。
使用R& S QAR-K50軟件選件獲得的測量值可以直接等同于VNA在QO設(shè)置中提供的結(jié)果。
R& S QAR-K50是用于單天線群集測量的軟件選件。
可以使用最新版本的固件將其安裝在R& S QAR的所有Windows 10版本上。
可以通過輸入鍵密碼來激活它。
現(xiàn)在可以從Rohde&定購此選項。
施瓦茨